● 微纳级的焦斑尺寸确保系统的高分辨率
● 透射式射线源,测试样品与焦点的距离很小,达到高分辨成像
● 多种扫描模式:螺旋、偏置、有限角等
● 可搭载自动进样系统,进行批量自动化测试
分辨率
像素细节分辨能力 | 200nm(平板探测器) / 50nm(物镜耦合探测器) |
空间分辨率* | 500nm(平板探测器) / 500nm(物镜耦合探测器) |
x射线源
类型 | 开管透射式(微焦点/纳焦点) |
最高电压 | 240kv / 225kv / 190kv / 160kv |
平板探测器
成像面积 | 244mm×195mm |
像素矩阵 | 1920×1536 |
物镜耦合探测器
镜头 | 4x、10x、20x |
样品
可检测样品尺寸 | 450mm×350mm(直径×高度) |
样品承重 | 15kg |
设备物理参数
设备尺寸 | 2460mm×1250mm×1950mm(长×宽×高) |
设备重量 | 5000kg |
*空间分辨率可用空间分辨率测试卡进行测试验证
▲ 技术参数为参考指标,更多规格型号,欢迎来电咨询
原位4d成像 结合原位力学和温度等加载装置,实现4d ct成像。 |
物镜耦合探测器 实现大工作距离下的高分辨率成像。 |