工业ct-九游会登陆

下图为x射线放大成像的原理示意图，系统的放大比m为sdd与sod的比值。

美国工程制造协会在e1441-00 astm文件上首次定义了有效射束宽度的概念，简记为bw。空间分辨率=bw的一半，计算公式如下：

在实际的ct设备中，焦点尺寸a和探测器探元d的数值是相对确定的数值，放大比m是可以通过调节射线源、样品台、探测器三者的相对位置进行变化的。

根据数学知识，分辨率公式中有2个极限最小值

a. 当放大比m→∞时，空间分辨率→0.5a

b. 当放大比m→1 时，空间分辨率→0.5d

结合实际的ct设备：

情况a代表的含义是：当系统的放大比m取最大值时，即样品紧贴射线源sod最小，探测器距离射线源最远sdd最大，可以获得系统的最高分辨率。射线源焦点尺寸越小，分辨率数值越小，分辨能力越高。这是我们常见的平板探测器成像系统中，在追求更高分辨率时，会通过选用更小焦点尺寸的x射线源来实现。

情况b代表的含义是：当系统的放大比m趋近于1时，即样品靠近探测器一侧，可以获得系统的最高分辨率，此时探测器的探元尺寸越小，分辨率数值越小，分辨能力越高。因为通常的射线源和探测器器件中，d是远远大于a的，采用这种成像条件时分辨率较低。而我们独特的物镜耦合探测器，通过光学二次放大的过程，相当于在成像镜头的闪烁片上形成极小尺寸的探原尺寸d，从而能够运用这种成像原理获得极高的分辨率。更多技术介绍可以参考“物镜耦合技术”